Kandungan/Skop Perkhidmatan dan Item Pengujian
a. Sampel Bahagian-TeM Nipis
Aplikasi penting bagi dwi-mikroskop rasuk ion fokus rasuk (DB-FIB) ialah penyediaan sampel ultranipis untuk mikroskop elektron penghantaran (TEM). GRGTEST Metrology boleh menyediakan item ujian berikut untuk aplikasi ini:
Kandungan Perkhidmatan
|
Item Ujian |
Unit Sebutharga |
Jenis Sampel |
|
Sampel XS Berasaskan Silikon (Si) (Bahagian-Rentas) Penyediaan Sampel |
Setiap (ea) |
Cip proses lanjutan pada 14nm dan ke bawah; cip pada 28nm, 40nm, 55nm dan ke atas |
|
PV Sampel Berasaskan Silikon (Si) (pandangan-Pelan) Penyediaan Sampel |
Setiap (ea) |
Cip proses lanjutan pada 14nm dan ke bawah; cip pada 28nm, 40nm, 55nm dan ke atas |
|
Sampel XS Berasaskan bukan-silikon (Bahagian-Rentas) Penyediaan Sampel |
Jam (j) |
Sampel bukan-berasaskan silikon, termasuk Gallium Arsenide (GaAs), Gallium Nitride (GaN), Silicon Carbide (SiC), dsb. |
|
PV Sampel Berasaskan bukan-silikon (paparan-Pelan) Penyediaan Sampel |
Jam (j) |
Sampel bukan-berasaskan silikon, termasuk Gallium Arsenide (GaAs), Gallium Nitride (GaN), Silicon Carbide (SiC), dsb. |
|
Penyediaan Sampel Khas |
Jam (j) |
Pelbagai sampel bahan baharu, termasuk bahan bateri litium, bahan elektrod graphene, dsb. |
b. Analisis bahagian-Hotspot FA
|
Item Ujian |
Unit Sebutharga |
Jenis Sampel |
|
Analisis bahagian-Rentas Hotspot FA (termasuk titik liputan yang ditangkap oleh kaedah seperti OBIRCH;-ujian sehenti termasuk tangkapan tempat liputan tersedia) |
Jam (j) |
Sampel semikonduktor: Wafer, IC, komponen, MEMS, laser, dsb. |
c. Pemprosesan bahagian-Konvensional
|
Item Ujian |
Unit Sebutharga |
Jenis Sampel |
|
Pemprosesan-bahagian silang yang disasarkan |
Jam (j) |
Sampel semikonduktor: Wafer, IC, komponen, PCB, MEMS, laser, dsb.;Sampel bukan{1}}separa konduktor lain |
|
Pemprosesan-Rentas{1}}yang tidak disasarkan |
Jam (j) |
Sampel semikonduktor: Wafer, IC, komponen, PCB, MEMS, laser, dsb.;Sampel bukan{1}}separa konduktor lain |
Kitaran Pengujian
Kitaran ujian standard ialah 3 hari kalendar. Untuk keperluan khas, kami boleh menyediakan sebut harga dengan masa respons yang berbeza 48j, 24j dan 12j.
Kelebihan Kami
Ahli pasukan GRGTEST Measurement mempunyai pengalaman yang relevan dalam proses pembuatan wafer lanjutan. Kami mematuhi pendekatan -pelanggan dan komited untuk menyediakan perkhidmatan ujian yang tepat, tepat pada masanya dan komprehensif.
GRGTEST Measurement ialah syarikat ujian-pihak ketiga-yang terbesar yang disenaraikan di China. Platform kami mempunyai mekanisme pengurusan yang kukuh dan-keupayaan ujian dan analisis proses penuh yang komprehensif, membolehkan kami menyediakan pelanggan analisis yang tepat pada masanya dan berwibawa untuk projek yang lengkap.
Keperluan Sampel
kontang; sampel tidak boleh mengandungi sebarang komponen cecair; stabil di bawah penyinaran pancaran ion (sesetengah sampel organik tidak dapat dikesan); dimensi secara amnya tidak melebihi 10cm*10cm*5cm (panjang*lebar*tinggi).
Cool tags: db-fib (dual-beam focused ion beam), China db-fib (dwi-beam focused ion beam) pembekal perkhidmatan
