Teknologi GRGTest FIB membolehkan kawalan kualiti yang tepat
Dalam bidang seperti sains bahan, pembuatan elektronik, dan kejuruteraan permukaan, pengukuran ketebalan filem adalah langkah kritikal dalam memastikan kualiti produk dan prestasi . ketepatan ketebalan lapisan filem secara langsung memberi kesan kepada kebolehpercayaan produk, fungsi, dan jangka hayat {{1} keperluan .
Dilema kaedah ujian ketebalan filem tradisional
1. Ketebalan pengesanan cermin sampel: Penyediaan sampel adalah rumit dan ketepatannya terhad
Untuk mengukur ketebalan sampel, ia mesti terlebih dahulu dimeteraikan dengan resin epoksi, kemudian tanah dan digilap dengan kertas pasir, dan akhirnya diukur dengan menggunakan mikroskop . Proses ini menuntut tahap penyediaan sampel yang tinggi, memastikan bahawa tidak ada penyegelan yang signifikan, lapisan filem .
2. XRF Pengukuran ketebalan pendarfluor: julat aplikasi sempit, ketepatan yang tidak mencukupi
Pengukuran ketebalan pendarfluor XRF mestilah mempunyai kepingan standard yang sepadan dengan julat logam dan ketebalan, dan tidak dapat mengukur ketebalan filem bukan logam . pada masa yang sama, sebagai kaedah ujian yang tidak memusnahkan, kesilapan ketepatan adalah besar di bawah 100 nanometer}
Teknologi FIB: Memecahkan batasan tradisional, membuka bab pengesanan ketepatan baru
GRGTEST menggunakan teknologi FIB (fokus ion beam), yang, dengan prinsip kerja yang unik dan kelebihan yang ketara, menawarkan penyelesaian revolusioner untuk ujian ketebalan filem . teknologi ini menggunakan lensa elektromagnet untuk memfokuskan rasuk ion ke dalam saiz yang sangat kecil, yang mengakibatkan saiz yang sangat tepat dan energetik dengan saiz yang sangat kecil {} Kesan sputtering dihasilkan, berkesan mengeluarkan bahan melalui etsa .
- Untuk filem organik yang sensitif dan sampel lain, teknologi FIB boleh mendepositkan lapisan pelindung, sangat mengurangkan kesan proses etsa pada sampel, sepenuhnya mengelakkan masalah tekanan terma yang dihasilkan semasa pemejalan epoksi, dan pastikan prestasi lapisan filem sensitif termal tidak rosak .
- Masalah lanjutan filem secara asasnya dielakkan dengan menggunakan ion rasuk etching .
- Sebagai tambahan kepada elemen lapisan pelindung yang diketahui, teknologi FIB tidak memperkenalkan unsur -unsur lain semasa proses ujian, dan dapat sepenuhnya mengelakkan gangguan elemen pencemaran luaran dalam proses penyediaan sampel ke analisis permukaan atau komponen dalaman lapisan filem .
